|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffractometry and topography of lattice plane curvature in thermally deformed Si wafer |
| Auteur: |
Yi, J. M. Chu, Y. S. Argunova, T. S. Domagala, J. Z. Je, J. H. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 15 (2008) nr. 1 pagina's 96-99 |
| Jaar: |
2008-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |