|
X-ray beam-position monitoring in the sub-micrometre and sub-second regime |
|
|
|
Titel: |
X-ray beam-position monitoring in the sub-micrometre and sub-second regime |
Auteur: |
Bunk, Oliver Pfeiffer, Franz Stampanoni, Marco Patterson, Bruce D. Schulze-Briese, Clemens David, Christian |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 12 (2005) nr. 6 pagina's 795-799 |
Jaar: |
2005-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|