|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Detection of a Point Defect in a Silicon Single Crystal by a Subtraction Method using High-Resolution Transmission Electron Microscopy |
| Auteur: |
Awaji, M. Hashimoto, H. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 52 (1996) nr. 2 pagina's 158-170 |
| Jaar: |
1996-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |