|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate lattice constants from multiple reflection measurements. II. Lattice constants of germanium silicon, and diamond |
| Auteur: |
Hom, T. Kiszenik, W. Post, B. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 8 (1975) nr. 4 pagina's 457-458 |
| Jaar: |
1975-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |