|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Two-step GISAXS characterization of NiSi2 nanoplates and Ni nanocrystals embedded in a silicon wafer covered with a silica thin film |
| Auteur: |
da Silva Costa, Daniel Kellermann, Guinther Craievich, Aldo F. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 56 () nr. 1 pagina's 95-102 |
| Jaar: |
2023-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |