|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Reciprocal space mapping and strain scanning using X-ray diffraction microscopy |
| Auteur: |
Poulsen, H. F. Cook, P. K. Leemreize, H. Pedersen, A. F. Yildirim, C. Kutsal, M. Jakobsen, A. C. Trujillo, J. X. Ormstrup, J. Detlefs, C. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 51 (2018) nr. 5 pagina's 1428-1436 |
| Jaar: |
2018-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |