|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals |
| Auteur: |
Meduňa, Mojmír Isa, Fabio Jung, Arik Marzegalli, Anna Albani, Marco Isella, Giovanni Zweiacker, Kai Miglio, Leo von Känel, Hans |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 51 (2018) nr. 2 pagina's 368-385 |
| Jaar: |
2018-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |