|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
NIST Standard Reference Material 3600: Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering |
| Auteur: |
Allen, Andrew J. Zhang, Fan Kline, R. Joseph Guthrie, William F. Ilavsky, Jan |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 50 (2017) nr. 2 pagina's 462-474 |
| Jaar: |
2017-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |