|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
A synchrotron X-ray diffraction deconvolution method for the measurement of residual stress in thermal barrier coatings as a function of depth |
| Auteur: |
Li, C. Jacques, S. D. M. Chen, Y. Daisenberger, D. Xiao, P. Markocsan, N. Nylen, P. Cernik, R. J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 6 pagina's 1904-1911 |
| Jaar: |
2016-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |