|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Asymmetric skew X-ray diffraction at fixed incidence angle: application to semiconductor nano-objects |
| Auteur: |
Grigoriev, D. Lazarev, S. Schroth, P. Minkevich, A.A. Köhl, M. Slobodskyy, T. Helfrich, M. Schaadt, D.M. Aschenbrenner, T. Hommel, D. Baumbach, T. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 3 pagina's 961-967 |
| Jaar: |
2016-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |