|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 40 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via |
| Auteur: |
Todt, J. Hammer, H. Sartory, B. Burghammer, M. Kraft, J. Daniel, R. Keckes, J. Defregger, S. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 1 pagina's 182-187 |
| Jaar: |
2016-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 40 van 40 gevonden artikelen
| << vorige |