|
X-ray asterism and the structure of cracks from indentations in silicon |
|
|
|
Titel: |
X-ray asterism and the structure of cracks from indentations in silicon |
Auteur: |
Tanner, B. K. Garagorri, J. Gorostegui-Colinas, E. Elizalde, M. R. Allen, D. McNally, P. J. Wittge, J. Ehlers, C. Danilewsky, A. N. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 49 (2016) nr. 1 pagina's 250-259 |
Jaar: |
2016-02-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|