|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction |
| Auteur: |
Benediktovitch, Andrei Zhylik, Alexei Ulyanenkova, Tatjana Myronov, Maksym Ulyanenkov, Alex |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 48 (2015) nr. 3 pagina's 655-665 |
| Jaar: |
2015-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |