|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of defects in mono-like silicon for photovoltaic applications using X-ray Bragg diffraction imaging |
| Auteur: |
Tsoutsouva, M. G. Oliveira, V. A. Baruchel, J. Camel, D. Marie, B. Lafford, T. A. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 48 (2015) nr. 3 pagina's 645-654 |
| Jaar: |
2015-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |