|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Diffraction stress analysis of highly planar-faulted, macroscopically elastically anisotropic thin films and application to tensilely loaded nanocrystalline Ni and Ni(W) |
| Auteur: |
Kurz, Silke Julia Birgit Welzel, Udo Bischoff, Ewald Mittemeijer, Eric Jan |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 47 (2014) nr. 1 pagina's 291-302 |
| Jaar: |
2014-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |