|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate determination of surface orientation of single-crystal wafers using high-resolution X-ray rocking curve measurements |
| Auteur: |
Kim, Chang Soo Bin, Seok Min Jeon, Hyeon-Gu O, Byungsung Choi, Young Dae |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 46 (2013) nr. 5 pagina's 1298-1305 |
| Jaar: |
2013-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| volgende >> |