|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of SiGe thin films using a laboratory X-ray instrument |
| Auteur: |
Ulyanenkova, Tatjana Myronov, Maksym Benediktovitch, Andrei Mikhalychev, Alexander Halpin, John Ulyanenkov, Alex |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 46 (2013) nr. 4 pagina's 898-902 |
| Jaar: |
2013-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |