|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Evidence for correlated structural and electrical changes in a Ge2Sb2Te5 thin film from combined synchrotron X-ray techniques and sheet resistance measurements during in situ thermal annealing |
| Auteur: |
Putero, Magali Ouled-Khachroum, Toufik Coulet, Marie-Vanessa Deleruyelle, Damien Ziegler, Eric Muller, Christophe |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 44 (2011) nr. 4 pagina's 858-864 |
| Jaar: |
2011-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |