|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Measuring the linearity of X-ray detectors: consequences for absolute attenuation, scattering and absolute Bragg intensities |
| Auteur: |
Barnea, Zwi Chantler, Christopher T. Glover, Jack L. Grigg, Mark W. Islam, M. Tauhidul de Jonge, Martin D. Rae, Nicholas A. Tran, Chanh Q. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 44 (2011) nr. 2 pagina's 281-286 |
| Jaar: |
2011-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |