|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Evidence of stacking-fault distribution along an InAs nanowire using micro-focused coherent X-ray diffraction |
| Auteur: |
Chamard, Virginie Stangl, Julian Labat, Stephane Mandl, Bernhard Lechner, Rainer T. Metzger, Till H. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 41 (2008) nr. 2 pagina's 272-280 |
| Jaar: |
2008-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |