|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface morphology of sputtered Ta2O5 thin films on Si substrates from X-ray reflectivity at a fixed angle |
| Auteur: |
Lee, Hsin-Yi Huang, Tzu-Wen Lee, Chih-Hao Hsieh, Yung-Wei |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 41 (2008) nr. 2 pagina's 356-362 |
| Jaar: |
2008-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |