|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative analysis of lamellar structures in brush polymer thin films by synchrotron grazing-incidence X-ray scattering |
| Auteur: |
Yoon, Jinhwan Jin, Kyeong Sik Kim, Hyun Chul Kim, Gahee Heo, Kyuyoung Jin, Sangwoo Kim, Jehan Kim, Kwang-Woo Ree, Moonhor |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 40 (2007) nr. 3 pagina's 476-488 |
| Jaar: |
2007-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |