|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Thin-film disorientation measurement using the single-crystal Nonius Kappa CCD diffractometer |
| Auteur: |
Aubert, Emmanuel Wenger, Emmanuel Link, Mathias Assouar, Badreddine Didierjean, Claude Lecomte, Claude |
| Verschenen in: |
Applied crystallography online |
| Paginering: | Jaargang 39 (2006) nr. 6 pagina's 919-921 |
| Jaar: |
2006-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |