|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Si wafers having one- and two-dimensionally curved (111) planes examined by X-ray diffraction |
| Auteur: |
Okuda, Hiroshi Nakajima, Kazuo Fujiwara, Kozo Ochiai, Shojiro |
| Verschenen in: |
Applied crystallography online |
| Paginering: | Jaargang 39 (2006) nr. 3 pagina's 443-445 |
| Jaar: |
2006-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |