|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of ordered mesoporous films on silicon (001) surface using X-ray and electron diffraction |
| Auteur: |
Liu, Pang-Hung Chao, Kuei-Jung Guo, Xing-Jian Huang, Kuo-Ying Lee, Yen-Ru Cheng, Cheng-Wen Chiu, Mau-Sen Chang, Shih-Lin |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 38 (2005) nr. 1 pagina's 211-216 |
| Jaar: |
2005-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |