|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Thick-mode resonance of a PZT/Si wafer stack investigated by X-ray diffraction in Bragg geometry |
| Auteur: |
de Souza, Paulo Eduardo Narcizo Cusatis, César Saul, Cyro Ketzer Rodrigues, Antônio Ricardo Drohler de Camargo, Paulo César |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 36 (2003) nr. 5 pagina's 1144-1147 |
| Jaar: |
2003-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |