|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the influence of oxygen on structural perfection of silicon single crystals by high-resolution X-ray diffraction and infrared absorption measurements |
| Auteur: |
Lal, Krishan Ramanan, R. R. Bhagavannarayana, G. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 33 (2000) nr. 1 pagina's 2-9 |
| Jaar: |
2000-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |