|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray Polytype Examination of SiC Bulk Crystals in Back-Reflection Geometry |
| Auteur: |
Dressler, L. Goetz, K. Kräusslich, J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 29 (1996) nr. 4 pagina's 378-382 |
| Jaar: |
1996-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 37 gevonden artikelen
| << vorige |