|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray Multiple Diffraction Phenomenon in the Evaluation of Semiconductor Crystalline Perfection |
| Auteur: |
Morelhão, S. L. Cardoso, L. P. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 29 (1996) nr. 4 pagina's 446-456 |
| Jaar: |
1996-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |