|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution X-ray diffraction of molecular-beam-epitaxy-grown InAlAs/InGaAs/InAlAs three-layer structures on (001)-oriented InP substrates |
| Auteur: |
Brühl, H.-G. Poecker, A. Nickel, H. Lösch, R. Schlapp, W. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 26 (1993) nr. 5 pagina's 645-649 |
| Jaar: |
1993-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |