|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Evidence of a lamellar microstructure in β-FeSi2 thin films grown on Si(111) by solid-phase epitaxy: a transmission electron microscopy analysis |
| Auteur: |
Zheng, Y. Taccoen, A. Gandais, M. Pétroff, J. F. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 26 (1993) nr. 3 pagina's 388-395 |
| Jaar: |
1993-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |