|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Precise X-ray relative measurement of lattice parameters of silicon wafers by multiple-crystal Bragg-case diffractometry. Computer simulation of the experiment |
| Auteur: |
Cembali, F. Fabbri, R. Servidori, M. Zani, A. Basile, G. Cavagnero, G. Bergamin, A. Zosi, G. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 25 (1992) nr. 3 pagina's 424-431 |
| Jaar: |
1992-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |