|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Spatial intensity profile of an X-ray beam reflected from nearly perfect silicon and diffuse scattering measurements |
| Auteur: |
Entin, I. R. Khrupa, V. I. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 24 (1991) nr. 4 pagina's 403-404 |
| Jaar: |
1991-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |