|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Precise relative X-ray measurement of the lattice parameter of silicon crystals with growth striations |
| Auteur: |
Kuběna, J. Holý, V. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 21 (1988) nr. 3 pagina's 245-251 |
| Jaar: |
1988-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |