|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Truncation in diffraction pattern analysis. I. Concept of a diffraction line profile and its range |
| Auteur: |
Delhez, R. de Keijser, Th. Mittemeijer, E. J. Langford, J. I. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 19 (1986) nr. 6 pagina's 459-466 |
| Jaar: |
1986-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |