|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Calculation of diffraction line profiles in the case of coupled stacking fault and size-effect broadening: application to boehmite AlOOH |
| Auteur: |
Grebille, D. Bérar, J. F. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 19 (1986) nr. 4 pagina's 249-254 |
| Jaar: |
1986-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |