|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Precision interplanar spacing measurements of boron-doped silicon |
| Auteur: |
Soares, D. A. W. Pimentel, C. A. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 16 (1983) nr. 5 pagina's 486-492 |
| Jaar: |
1983-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |