|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessment of Trap Charges for Analog/RF FOMs and Linearity Behaviour on InAs Based Dual Metal Hetero Gate Oxide TFET for Enhanced Reliability |
| Auteur: |
Vedvrat, |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 16 () nr. 17 pagina's 6107-6121 |
| Jaar: |
2024-09-17 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |