Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 18 van 35 gevonden artikelen
 
 
  Fuzzy Logic Based Model to Predict Surface Roughness of Si(100) Wafer Using Preliminary Experimental Data Obtained From Single Pole Magnetic Abrasive Finishing Process
 
 
Titel: Fuzzy Logic Based Model to Predict Surface Roughness of Si(100) Wafer Using Preliminary Experimental Data Obtained From Single Pole Magnetic Abrasive Finishing Process
Auteur: Sharma, Ashwani
Pandey, Kheelraj
Sood, Anoop Kumar
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 16 () nr. 10 pagina's 4199-4212
Jaar: 2024-04-19
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 18 van 35 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland