|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface Trap Charges Analysis on DC and High Frequency Characteristics of UTBB-FDSOI FET |
| Auteur: |
Awadhiya, Bhaskar Yadav, Shivendra Acharya, Abhishek |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 15 () nr. 2 pagina's 937-942 |
| Jaar: |
2022-08-24 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |