|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
The Investigation of Gate Oxide and Temperature Changes on Electrostatic and Analog/RF and Behaviour of Nanotube Junctionless Double-Gate-All Around (NJL-DGAA) MOSFETs using Si Nano-materials |
| Auteur: |
Gupta, Abhinav Pandey, Amit Kumar Upadhyay, Shipra Gupta, Vidyadhar Gupta, Tarun Kumar Pandey, Digvijay Bajpai, Shrish Chandel, Vishal Singh |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 15 () nr. 12 pagina's 5197-5208 |
| Jaar: |
2023-03-27 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |