Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 31 van 60 gevonden artikelen
 
 
  Investigation and Design of Stacked Oxide Polarity Gate JLTFET in the Presence of Interface Trap Charges for Analog/RF Applications
 
 
Titel: Investigation and Design of Stacked Oxide Polarity Gate JLTFET in the Presence of Interface Trap Charges for Analog/RF Applications
Auteur: Nigam, Kaushal
Singh, Sajai Vir
Kwatra, Priyanka
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 14 () nr. 8 pagina's 3963-3980
Jaar: 2021-05-29
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 31 van 60 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland