|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 49 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction study of porous silicon layers etched on (111)-orientedp+ substrate |
| Auteur: |
Kowalski, G. Gronkowski, J. Harasimowicz, T. Moore, M. Maricic, Z. Nossarzewska-Orlowska, E. Brzozowski, A. |
| Verschenen in: |
Il nuovo cimento. D |
| Paginering: | Jaargang 19 (1997) nr. 2-4 pagina's 561-570 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Società Italiana di Fisica, Bologna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 49 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |