|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray Diffraction Analysis of Damaged Layer During Polishing of Silicon Carbide |
| Auteur: |
Jung, Hokyoung Jeong, Seonho Park, Youngwook Shin, Yeongil Jeong, Haedo |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. 1 pagina's 25-32 |
| Jaar: |
2022-11-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| << vorige |