|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
A fast image enhancement technique using a new scanning path for critical dimension measurement of glass panels |
| Auteur: |
Doan, Nam-Thai Moon, Jun-Hee Kim, Tai-Wook Pahk, Heui-Jae |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 13 (2012) nr. 12 pagina's 2109-2114 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Springer |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 25 gevonden artikelen
| volgende >> |