|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Transmission electron microscopy observation of a single Ni dot fabricated using scanning tunneling microscopy |
| Auteur: |
Hong, Chul-Un Kang, Hyung-Sub Kim, Seong-Jong Kang, Sung-Jun Kim, Gi-Beum |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 11 (2010) nr. 3 pagina's 469-472 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Springer |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| << vorige |