|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterizing and monitoring thin-film processes with spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
Srivatsa, Arun R. Ygartua, Carlos L. |
| Verschenen in: |
JOM |
| Paginering: | Jaargang 51 (1999) nr. 3 pagina's 34-36 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |