|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of nanometer-scale films using low angle X-ray reflectivity analysis in IPOE |
| Auteur: |
Wang, Zhan-shan Xu, Yao Wang, Hong-chang Zhu, Jing-tao Zhang, Zhong Wang, Feng-li Chen, Ling-yan |
| Verschenen in: |
Optoelectronics letters |
| Paginering: | Jaargang 3 () nr. 2 pagina's 88-90 |
| Jaar: |
2007-03-19 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Tianjin University of Technology, Tianjin |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |