|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of charge intensification effect in a-Si:H by means of photoelectric sensitivity method |
| Auteur: |
Hai, Yuhan Hai, Hao Xi, Zhonghe Zhang, Qiang |
| Verschenen in: |
Journal of electronics (China) |
| Paginering: | Jaargang 16 (1999) nr. 1 pagina's 81-87 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Science Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |