|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
An Accurate Characterization of CRT Monitor (II) Proposal for an Extension to CIE Method and Its Verification |
| Auteur: |
Katoh, Naoya Deguchi, Tatsuya Berns, Roy S. |
| Verschenen in: |
Optical review |
| Paginering: | Jaargang 8 (2001) nr. 5 pagina's 397-408 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |